- 29 -

Ansprechzeit: 500ms approx

Leerlaufspannung: 3.0VDC typisch

Überlastschutz: 500VDC oder AC eff

Diodentest

Teststrom: 1mA (approx.)

Testspannung: 3.0VDC typisch

Genauigkeit: ±(1.5%vMW +1Dgt)

Anzeige, 2V Bereich: Spannungsabfall über

Diodendurchgang

Überlastschutz: 500VDC oder AC eff

Logiktest (23/25/27XT)

Logik: TTL, CMOS

Schwellen, Logik 1 (HI):

TTL: 2.8V±0.8V / CMOS: 4.0V±1.0V

Schwellen, Logik 0 (LO):

TTL: 0.8V±0.5V / CMOS: 2.0V±0.5V

Testspannung, TTL: 5VDC; CMOS: >5VDC

und <10VDC

Frequenzgang: 20MHz

Impulsbreite: 25ns min.

Taktverhältnis: >20% und <80%

Anstiegszeit/Wiederholrate: 10µsec/1Mpps

Anzeige: 40ms Ton bei Logik O (LO)

Überlastschutz: 500VDC oder AC eff

Transistor Beta (23/25XT)

Transistor Typen: NPN, PNP

hFE Bereich: 0-1000

hFE Basisstrom: 10µAdc approx.

hFE Spannung C-E = 3.0VDC approx.

Temperatur (23XT)

Bereiche : 200, 750°C; 200, 1400°F

Genauigkeit:

-20 bis 200°C: ±(1.0%vMW +2°C)

200°C bis 750°C: ±(3.0%vMW +2°C)

-4°F bis 200°F: ±(1.0%vMW +4°F)

200°F bis 1400°F: ±(3.0%vMW +4°F)

Temperatur (28XT)

Bereiche : 200, 1300°C; 200, 2000°F

Genauigkeit:

-30 bis 1300°C: ±(1.0%vMW +1°C)

-22°F bis 2000°F: ±(1.0%vMW +2°F)

Frequenz (25/27/28XT)

Bereiche

25XT, Bereichsautomatik: 2kHz, 40kHz,

27XT, Bereichsautomatik: 2kHz, 20MHz

28XT, Manuell: 200Hz, 20kHz

Genauigkeit (>10Hz) ±(0.5% +3Dgt)

Empfindlichkeit, 25/28XT: 2V eff

27XT:

Low, 10Hz bis 1MHz: 250mV RMS;

Low 1MHz bis 20MHz: 2V RMS

High: 10 bis 100kHz: 2V RMS

Min Impulsbreite, 25/28XT: >150µs;

27XT: ≥25ns

Taktverhältnis: >30% und <70%

Überlastschutz: 500VDC oder AC eff

Kapazität (25/27/28XT)

Bereiche:

25XT: 200pF, 2, 20, 200nF, 2, 20, 200,

2000µF, 20mF

27XT: 2, 20nF, 2, 20, 2000µF

28XT: 2, 20, 200nF, 2, 20, 200µF, 2, 20mF

Genauigkeit*, 25XT:

200pF Bereich: ±(2.0% vMW +0.5pF)

2nF bis 2000µF Ber.: ±(2.0% vMW +4Dgt)

20mF Bereich: ±(3.0% vMW +4Dgt)

Genauigkeit*, 27XT:

alle Bereiche: ±(5.0% vMW +10Dgt)

Genauigkeit*, 28XT:

2nF bis 2mF Ber: ±(2.0% vMW +4Dgt)

20mF Bereich: ±(3.0% vMW +4Dgt)

Anmerkung: in niedrigen Bereichen residuelle

(Offset) Ablesung vom Resultat abziehen

Testfrequenz, Ansprechzeit, 25XT:

200pF-2µF Bereiche: 1000Hz/1.5 Sek

20µF Bereich: 100Hz/1.5 Sek

200-2000µF Bereiche: 10Hz/5 Sek

20mF Bereich: 10Hz/10 Sek

Testfrequenz, Ansprechzeit, 27XT:

2nF-20µF Bereiche: 200Hz/8 Sek

2000µF Bereich: 2Hz/20 Sek

Testfrequenz, Ansprechzeit, 28XT:

2nF-2µF Bereiche: 1000Hz/1.5 Sek

200µF, 2mF Bereiche: 10Hz/5 Sek

20mF Bereich: 10Hz/10 Sek

Überlastschutz, flinke Sicherung

27XT: 0.5A/250V

25/28XT: 0.1A/250V

Induktivität (27XT)

Bereiche: 2, 20, 200mH, 2, 20H

Auflösung, 2mH Bereich: 1µH

23XT-28XT.Man.08.00 9/11/00 7:03 PM Page 32

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Lg FLATRON-776FM-FM776C-CP Manuel de l'utilisateur (12 pages)

marque: Lg | Catégorie: No info | Taille: 0.23 MB |

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